빠른 테스트: 보호 보드의 설계 매개변수에 따라 테스트 매개변수는 빠른 테스트를 수행하도록 설정되어 보호 보드 제조업체 및 전원 배터리 제조업체가 대규모 빠른 테스트 및 선적을 수행하는 데 편리합니다. 동시에 다양한 하드웨어 체계 및 일부 소프트웨어 체계의 보호 보드 테스트에 적합합니다.

성능

일상적인 테스트 항목:

내부 저항 시험, 과충전 및 과방전 시험, 과충전 회복, 과방전 회복 시험, 과전류 시험(충방전 과전류), 과충전 보호전압, 과충전 회복전압, 과방전 보호전압, 과방전 회복전압, 과전류 보호 등

특수 테스트 항목:

단락 보호 테스트(실제 단락 보호 테스트 마이크로초 수준 참조).

단일 섹션 자체 소비량 테스트(각 섹션의 진실하고 정확한 자체 소비량 참조).

전류 균등화 및 전압 균등화(전류 균등화 및 개방 전압 균등화를 정확하게 파악할 수 있음).